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| 品牌 | XJTOP | 型号 | XTOM |
| 测量精度 | 0.01mm | 加工定制 | 是 |
| 类型 | 工业级高精度 | 扫描范围 | 10mm~30m |
| 扫描方式 | 结构光白光 | 有效像素 | 230/600/900万 |
| 规格 | DIY |
系统介绍
XTOM—三维光学面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用外差式多频相移三维光学测量技术，单幅测量幅面大小（从30毫米到1米）、测量精度、测量速度等性能都达到***水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高，单次测量幅面更大、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，而且能够测量表面剧烈变化的工件，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。
应用方向
行业
汽车行业、航空航天、机械制造、文物修复、家具制造、医疗保健等
逆向设计
快速获取被测物体表面三维数据，建立物体三维模型，优化产品设计/还原设计图
产品检测
检测范围包括：产品点、线、面之间角度、距离、对称度及位置度等关系：对比标准共建或设计图分析产品尺寸、角度、厚度及位置偏差等：对比产品使用前后数据分析产品使用损耗，分析产品性能及寿命等。可检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等。
其他应用
技术参数
常规标准型
型号 | XTOM-TC | XTOM-ED-I | XTOM-ED-II |
测量幅面(mm) | 200*150/400*300 | 200*150/400*300 | 200*150/400*300 |
相机像素 | 2*130w | 2*130w | 4*230w |
测量精度(mm) | 0.04 | 0.025/0.03 | 0.025~0.03 |
采样点距(mm) | 0.15/0.3 | 0.1/0.2 | 0.1~0.2 |
标准测距(mm) | 350/850 | 450/850 | 450/850 |
扫描时间(s) | 2~4 | ||
扫描光源 | 蓝/白 | ||
拼接方式 | 标志点/特征/手动 | ||
***工业型
型号 | XTOM-ET-I | XTOM-ET-II | XTOM-ET-III |
测量幅面(mm) | 200*150/400*300 | 200*150/400*300 | 800*600 |
相机像素 | 2*230w | 2*500w | 2*500w |
测量精度(mm) | 0.02/0.025 | 0.01/0.015 | 0.03 |
采样点距(mm) | 0.1/0.2 | 0.08/0.15 | 0.3 |
标准测距(mm) | 450/850 | 450/850 | 1600 |
扫描时间(s) | 2~8 | ||
扫描光源 | 蓝/白 | ||
拼接方式 | 标志点/特征/手动 | ||
备注：***工业型CCD支持升级600万/900万，支持依据客户需求定制。
