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品牌 | 其他 | 型号 | ST2253 |
加工定制 | 是 | 类型 | 数字式电阻测量仪表 |
测量范围 | 电阻率:10的-4次方~10的5次方Ω-cm方块电阻: 10-3~106Ω/□电 阻:10-4(MΩ) | 电 源 | |
测试电压 | 精度 | ||
重复误差 | 环境温度 | ||
相对湿度 | 校准周期 | ||
重量 | 尺 寸 | ||
规格 |
ST2253软件测试界面
ST2253测试报告
二、概述
2.1基本功能和依据标准:
ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。
2.2 仪器成套组成:由ST2253四探针主机、选配的四探针探头、四探针测试台以及ST2253型四探针测试软件等部分组成。
2.3优势特征:
1) 带电脑软件,可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。荣获***专利权作品,专利号:软著登字第号
2) USB通讯接口,通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式,这些端口一般电脑都难配了!
3) 8档位超宽量程。同行一般为五到六档位。
4) 可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。
5) 操作简便、性能稳定,所有参数设定、功能转换全部采用数码开关输入,简便可靠而且免除模拟电位器式的不稳定易受干扰。
2.4探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》
1) 配高耐磨的碳化钨探针探头,如ST2253-F01型,以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;
2) 配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头,如ST2558B-F01型,可测金属箔、碳纸等导电薄膜,也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜,如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。
3) 配专用箔上涂层探头,如ST2558B-F02型,也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。
4) 换上四端子测试夹具,还可对电阻器的体电阻进行测量。
2.5测试台选配:根据不同材料特性需要,测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表
四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型(电动)或SZT-C型(快速恒压)或SZT-F型(太阳能电池片)测试台。
二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.
平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。
2.6适用范围:仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本技术参数
3.1 测量范围
电 阻:1×10-4~2×105 Ω ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω
电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm
方 阻:5×10-4~1×106 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径:SZT-B/C/F测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.
长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
3.3 量程划分及误差等级
满度显示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 |
测试电流 | 0.1μA | 1.0μA | 10μA | 100μA | 1.0mA | 10mA | 100mA | 1.0A |
常规量程 | kΩ-cm/□ | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | ||||
基本误差 | ±2%FSB ±4LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | ±0.5%FSB±2LSB | ±1.0%FSB ±4LSB |
3.4 四探针探头(选配其一或加配全部)
(1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调
(2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可调
3.5. 电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W
3.6.外形尺寸、重量:
主 机: 220mm(长)×245 mm(宽)×100mm(高), 净 重:≤2.5kg
四、详情请登陆苏州晶格电子有限公司官方网站
查看《ST2253型数字式四探针测试仪技术使用说明书》
五、客服热线:400-635-7098 QQ:51丁先生