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![可测材料[A系列-薄层材料]](https://image-258.258weishi.com/258com/20181210/9c41b5290263a6192f7e645dab4b8617.jpg!h.450.338)
![可测材料[A系列-块板固体材料]](https://image-258.258weishi.com/258com/20181210/615eaffcc4ba14bf2313e57ecfa7c528.jpg!h.450.338)
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晶格 ST2558B-F01薄膜方块电阻直线四探针探头
晶格 SZT-C快速恒压四探针测试仪测试台
晶格 ST2263双电测四探针测试仪电阻率方块电阻测试仪
晶格 ST2571A-F03石墨烯膜矩形四探针探头
晶格 单晶多晶硅锗棒材 电阻率测试仪器方案选型
晶格 单晶多晶硅锗块料 电阻率测试仪器测试选型
晶格 石墨碳素块状型材 电阻率测试仪器方案
晶格ST2253-F03型石墨碳素四探针探头
晶格 电容器金属化膜 方阻方块电阻测试仪
晶格 导电橡胶片 方阻方块电阻测试选型
| 品牌 | 其他 | 型号 | ST2571-F01 |
| 加工定制 | 是 | 类型 | 数字式电阻测量仪表 |
| 测量范围 | 最小样品尺寸2mm×2mm | 电 源 | |
| 测试电压 | 精度 | ||
| 重复误差 | 环境温度 | ||
| 相对湿度 | 校准周期 | ||
| 重量 | 尺 寸 | ||
| 规格 |
基本功能：ST2571-F01 型钨针矩形四探针测试探头，矩形1*1mm针距,有高耐磨碳化钨探针，配以四探针仪器和测试台，用以测试导体ITO膜 触摸屏等金属化膜材料的电阻率和方块电阻。
基本组成：成套探头有可拆换式碳化钨探针、探针夹持单元、探针和探头压力缓冲弹簧、手持式外套、测试台连接单元，仪器连接线缆等部件组成。
配套与兼容：本探头兼容本公司所有四探针仪器和四探针测试台，如下表主要型号，配以本公司测试台，也可兼容其他大部分厂家四探针仪器。
ST2571-F01 型钨针矩形四探针探头适用产品部分型号及名称列表
测试台型号名称 | 四探针仪器型号名称 | ||
型号 | 名称 | 型号 | 名称 |
SZT-A | 四探针测试台 | ST2253 | 数字式四探针测试仪 |
SZT-B | 电动四探针测试台 | ST2258A | 多功能数字式四探针测试仪 |
SZT-C | 快速恒压四探针测试台 | ST2263 | 双电测数字式四探针测试仪 |
M-2 | 手持式四探针测试仪 | ||
M-3 | 手持式四探针测试仪 | ||
…… | 其他厂家型号 | ||
RST-4/8 | 数字式四探针测试仪 | ||
SDY-4 | 数字式四探针测试仪 | ||
二、主要技术参数及说明
1 可测片料块料或棒料等。小样品尺寸2mm×2mm，宽平面尺寸和厚度，由所配测试台决定，手持探头方式不限。
1 .1探针间距：矩形1*1mm针距。
1.2探针机械游移率： ±0.5%。
1.3探针：碳化钨，Φ0.5mm。
1.4压力： 0～1000g可调,额定压力约600g。
2.探针为可快捷拆换型，方便生产线频繁使用。
3.本公司可为顾客长期代购探针配件，价格优惠，服务周到。
三、使用方式，请参照各配套测试台使用方式。
四、详情请登陆苏州晶格电子有限公司
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